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产品概述

芯片AOI检测设备

芯片AOI检测设备主要用于实现半导体芯片的外观缺陷检测,AOI视觉系统识别每款芯片规格,便于人工防呆且针对不同芯片的IC进行外观缺陷检测及测量。

产品详情

技术参数:

全自动检测系统,自动上下料

效率: UPH约2200pcs/h(与产品工艺参数和材料有关)

检测项目:异物、脏污、划伤、溢胶、群集性污染等

 

产品应用:

模组芯片等产品检测工艺

适合量产